RoHS/無鹵/ELV專用分析儀 EDX-LE

RoHS/無鹵/ELV專用分析儀 EDX-LE
產品特色 基本規格 應用領域 相關知識 問題詢問 :  EDX-LE是一款專用於RoHS/ELV/無鹵法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信度性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，可全方位應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。 人性化設計-儀器自動判定最佳分析條件 :  儀器根據材料自動選擇適當的測試條件，降低操作者使用負擔，或選錯的風險 內建測試條件市面上最齊全-塑膠(PE、PVC) 、Al合金、鋼鐵、黃銅、焊錫各式基質 光管老化裝置-加強光管穩定性、延長光管壽命 :  為激發光管，須將電壓加強至50kV，島津在電壓增強時，採取步進式技術(每次增加1KV)，溫和增加電壓，使得光管在加壓時，較不易受電壓強度衝擊(異常放電)而損壞，進而延長光管壽命。 RoHS/ELV與無鹵軟體-輕鬆解決工業材料干擾Cl(氯)的問題:  可選擇包含Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Cl, (Sb, As, Ba, Se, Sn) 之標準檢量線 ► 針對塑料基質及不同填充物(Ti、Ba、Ca)的干擾進行補正 ► 檢量線上直接搭配FP ►友善的測試平台介面 ► 在測試畫面內即可切直接換準直器，不需要繁雜的條件設定 ► 自動保存測試畫面結果，不須額外照相存檔 測定準備 材質判定 合否判定 報告書 ► 新增快速分析模式，樣品最快可於一分鐘內完成測試，符合RoHS規範，有效 降低測試時間並延長零件壽命 ► 對應全元素精密分析與其他應用測試可選擇精密分析模式 產品特色 基本規格 相關知識 問題詢問 : 項目 內容 產地 日本 測定元素範圍 鋁(Al13)~鈾(U92) 樣品型態 固體、液體、粉末 靶材 Rh(銠)靶 管電壓 5-50kV多段式輸出(每步進1KV可進行調整) 管電流 1~1000μA(儀器能自動調整最適合的電流輸出) 檢測器 矽半導體(Si-Pin)檢測器 (電子冷卻式) 濾波器 5種模式 + OPEN自動切換 樣品觀察 半導體CMOS照相機 準直器(照射徑) 1、3、0.3 φ or 5、10mmφ自動切換(10 mmφ標準配備)  樣品室 370(W)*320(D)*155(H)mm 安全鎖 測試時自動上鎖保護  定性、定量分析功能 ► 元素分析 ► 能譜比對 ► 資料庫自動辨別比對 ► 電鍍膜厚測定 符合有害物質分析 ► 歐盟RoHS、ELV指令：鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、鉻(Cr)、溴(Br) ► 無鹵規範：溴(Br)、氯(Cl) ► 歐洲玩具標準EN71-3：鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、鉻(Cr)、硒(Se)、砷(As)、鋇(Ba)、銻(Sb) ► 歐盟REACH法令部分SVHC篩選測試：鉛(Pb)、鉻(Cr)、溴(Br)、砷(As)、氯(Cl) ► 加州Prop. 65法令：鉛(Pb)、鎘(Cd) ► 美國CPSIA法令：鉛(Pb)   報告輸出 MS-Excel,Html 設置需求 主機尺寸：520(W)*650(D)*420(H)mm 主機重量：60Kg 使用電源：AC100~120V或200~240V±10%,5A

低檢測下限、輕元素測試應用機種 EDX-7000

低檢測下限、輕元素測試應用機種 EDX-7000
產品特色基本規格 應用領域 相關知識 問題詢問 :  高性能SDD探測器和優化的硬體設備實現高靈敏度，分析速度快，能量分辨率低，突破傳統XRF測試極限，高靈敏度將檢測下限提高1.5~5倍。 測試時間更短、精度更高:  ► SDD檢測器於單位時間計算取得較多的螢光訊號，傳統機種測試時間300秒的結果，EDX-7000只需要1/10時間，便可達成 ► X射線螢光分析可以通過延長測定時間增加X射線螢光的計數從而提高精度，EDX-7000測時達300秒時，精度更高，變異係數可達傳統機種的1/5。 高分辨率(解析度):  ► EDX-7000搭配SDD檢測器，傳統機種無法分辨的S跟Cl的波峰，透過高解析度，可清楚分辨兩種波峰，藉此降低共元素干擾的影響。 特別在PPS樹脂，具有高濃度S的存在，若分辨率不夠高的機種，Cl的波峰會完全被覆蓋 精準的輕元素分析 :  ► 不需要抽真空，便可分析從Na開始的元素， ► 難檢測的水溶液樣品，都可達到一定的檢測下限 ► 可選配配件提高輕元素分析精準度 使用氦氣置換檢測裝置，可檢測吸濕性樣品和含水樣品(生物樣品、木材、建材等)中Na、Mg、Al元素。 先進的氦氣進氣裝（專利申請字號：PCT/JP2013/075569），可有效的減少40%的抽真空時間與氦氣的使用量。 光管老化裝置-加強光管穩定性、延長光管壽命:  為激發光管，須將電壓加強至50kV，島津在電壓增強時，採取步進式技術(每次增加1KV)，溫和增加電壓，使得光管在加壓時，較不易受電壓強度衝擊(異常放電)而損壞，進而延長光管壽命。 4種光纖准直器以及試樣觀察攝像頭 : ►1，3，5，10mmΦ共4檔自動切換 ► 測試微小試樣時，或以X射線照射由複數部分構成之試樣的特定位置時，或使用微量用試樣容器時較為有效。 樣品測試轉台 : ►可供連續12個樣品使用(選配) 產品特色 基本規格 相關知識 問題詢問 : 項目 內容 產地 日本 測定元素範圍 EDX-7000鈉(Na11)~鈾(U92) 樣品型態 固體、液體、粉末、薄膜 靶材 Rh(銠)靶 管電壓 5-50kV多段式輸出(每步進1KV可進行調整) 管電流 1~1000μA(儀器能自動調整最適合的電流輸出) 檢測器 高性能SDD檢測器(無須液態氮 濾波器 5種模式 + OPEN自動切換 樣品觀察 半導體CMOS照相機 準直器(照射徑) 1、3、5、10mmφ自動切換  樣品室 300(W)*275(D)*100(H)mm 本體尺寸 460(W)*590(D)*360(H)mm 安全鎖 測試時自動上鎖保護

材料分析專用機 EDX-8000

材料分析專用機 EDX-8000
產品特色 基本規格 應用領域 相關知識 問題詢問 :  配置電子製冷的高性能SDD檢測器，在控制運行成本、提升維護性能的同時，與以往機型相比，實現更高靈敏度、高準確度、高效率。除了可以應對從 RoHS/ELV指令的環境法規限制的產品管理外，該機種更適用於實驗室研發材料分析，從電子、電氣材料到汽車、機械、石油化學、醫藥、食品等多行業領域。 可檢測到碳C6的XRF - 輕元素分析:  EDX-8000搭載著在窗材上使用極薄特殊素材的SDD檢測器，在《大氣下》就能檢測碳C6之後的元素。 高靈敏度、低檢測下限: 利用Mg的檢測下限，XRF在輕元素或檢測下限的能力高低，便可一探究竟! 下圖SDD型號(EDX-7000,EDX-8000)明顯可檢測到Mg的波峰，而EDX-8000透過特有的極薄特殊素材窗口，得到的波峰(橘色線)更為明顯，檢測下限也為常規SDD檢測器(EDX-7000)的1/2不到。 材料應用分析專用機:  EDX-8000的靈敏性與適用範圍，適用於材料研究或微量分析，以下提供幾個案例介紹 ► 【案例一】水泥標準物質的定性與定量分析 下圖水泥樣品中，微量物質於定性分析或定量分析都有很好的表現，微量元素的波峰(如SrO)雖然只有0.023%，但波峰仍十分清楚。 ►【案例二】少量海藻成份分析         在面對礦物或生物類樣品時，由於基質成分影響較大，通常使用FP法進行基質分析後，在進行定量。         但若樣品量太少時，使用FP做的基質分析差異過大，導致定量十分不準確。 島津專利的Background FP法利用X射線的強度計算理論，可將樣品數量因子進行計算，算出正確的基質進而定量。         下圖可明顯看出當海藻樣品量多或少時，X射線的強度(波峰高低)明顯不同，此時Background FP法就可得到明顯的效果。 ► 【案例三】樹脂成品上異物分析 由於EDX-8000搭載特殊窗口薄膜，檢測下限極低，因此可應用於微量異物分析。 下圖紅點為樹脂成品上之異物，藍點為無異物之樹脂 將兩者結果疊圖，將一樣的地方挑出(綠色虛線)即為異物成份。 光管老化裝置-加強光管穩定性、延長光管壽命: 為激發光管，須將電壓加強至50kV，島津在電壓增強時，採取步進式技術(每次增加1KV)，溫和增加電壓，使得光管在加壓時，較不易受電壓強度衝擊(異常放電)而損壞，進而延長光管壽命。 樣品測試轉台: ►可供連續12個樣品使用(選配) 產品特色基本規格相關知識 問題詢問 :  項目 內容 產地 日本 測定元素範圍 EDX-8000碳(C6)~鈾(U92) 樣品型態 固體、液體、粉末、薄膜 靶材 Rh(銠)靶 管電壓 5-50kV多段式輸出(每步進1KV可進行調整) 管電流 1~1000μA(儀器能自動調整最適合的電流輸出) 檢測器 高性能SDD檢測器(無須液態氮 濾波器 5種模式 + OPEN自動切換 樣品觀察 半導體CMOS照相機 準直器(照射徑) 1、3、5、10mmφ自動切換  樣品室 300(W)*275(D)*100(H)mm 本體尺寸 460(W)*590(D)*360(H)mm 安全鎖 測試時自動上鎖保護