低檢測下限、輕元素測試應用機種 EDX-7000

低檢測下限、輕元素測試應用機種 EDX-7000
產品特色基本規格 應用領域 相關知識 問題詢問 :  高性能SDD探測器和優化的硬體設備實現高靈敏度，分析速度快，能量分辨率低，突破傳統XRF測試極限，高靈敏度將檢測下限提高1.5~5倍。 測試時間更短、精度更高:  ► SDD檢測器於單位時間計算取得較多的螢光訊號，傳統機種測試時間300秒的結果，EDX-7000只需要1/10時間，便可達成 ► X射線螢光分析可以通過延長測定時間增加X射線螢光的計數從而提高精度，EDX-7000測時達300秒時，精度更高，變異係數可達傳統機種的1/5。 高分辨率(解析度):  ► EDX-7000搭配SDD檢測器，傳統機種無法分辨的S跟Cl的波峰，透過高解析度，可清楚分辨兩種波峰，藉此降低共元素干擾的影響。 特別在PPS樹脂，具有高濃度S的存在，若分辨率不夠高的機種，Cl的波峰會完全被覆蓋 精準的輕元素分析 :  ► 不需要抽真空，便可分析從Na開始的元素， ► 難檢測的水溶液樣品，都可達到一定的檢測下限 ► 可選配配件提高輕元素分析精準度 使用氦氣置換檢測裝置，可檢測吸濕性樣品和含水樣品(生物樣品、木材、建材等)中Na、Mg、Al元素。 先進的氦氣進氣裝（專利申請字號：PCT/JP2013/075569），可有效的減少40%的抽真空時間與氦氣的使用量。 光管老化裝置-加強光管穩定性、延長光管壽命:  為激發光管，須將電壓加強至50kV，島津在電壓增強時，採取步進式技術(每次增加1KV)，溫和增加電壓，使得光管在加壓時，較不易受電壓強度衝擊(異常放電)而損壞，進而延長光管壽命。 4種光纖准直器以及試樣觀察攝像頭 : ►1，3，5，10mmΦ共4檔自動切換 ► 測試微小試樣時，或以X射線照射由複數部分構成之試樣的特定位置時，或使用微量用試樣容器時較為有效。 樣品測試轉台 : ►可供連續12個樣品使用(選配) 產品特色 基本規格 相關知識 問題詢問 : 項目 內容 產地 日本 測定元素範圍 EDX-7000鈉(Na11)~鈾(U92) 樣品型態 固體、液體、粉末、薄膜 靶材 Rh(銠)靶 管電壓 5-50kV多段式輸出(每步進1KV可進行調整) 管電流 1~1000μA(儀器能自動調整最適合的電流輸出) 檢測器 高性能SDD檢測器(無須液態氮 濾波器 5種模式 + OPEN自動切換 樣品觀察 半導體CMOS照相機 準直器(照射徑) 1、3、5、10mmφ自動切換  樣品室 300(W)*275(D)*100(H)mm 本體尺寸 460(W)*590(D)*360(H)mm 安全鎖 測試時自動上鎖保護