材料分析專用機 EDX-8000

材料分析專用機 EDX-8000
產品特色 基本規格 應用領域 相關知識 問題詢問 :  配置電子製冷的高性能SDD檢測器，在控制運行成本、提升維護性能的同時，與以往機型相比，實現更高靈敏度、高準確度、高效率。除了可以應對從 RoHS/ELV指令的環境法規限制的產品管理外，該機種更適用於實驗室研發材料分析，從電子、電氣材料到汽車、機械、石油化學、醫藥、食品等多行業領域。 可檢測到碳C6的XRF - 輕元素分析:  EDX-8000搭載著在窗材上使用極薄特殊素材的SDD檢測器，在《大氣下》就能檢測碳C6之後的元素。 高靈敏度、低檢測下限: 利用Mg的檢測下限，XRF在輕元素或檢測下限的能力高低，便可一探究竟! 下圖SDD型號(EDX-7000,EDX-8000)明顯可檢測到Mg的波峰，而EDX-8000透過特有的極薄特殊素材窗口，得到的波峰(橘色線)更為明顯，檢測下限也為常規SDD檢測器(EDX-7000)的1/2不到。 材料應用分析專用機:  EDX-8000的靈敏性與適用範圍，適用於材料研究或微量分析，以下提供幾個案例介紹 ► 【案例一】水泥標準物質的定性與定量分析 下圖水泥樣品中，微量物質於定性分析或定量分析都有很好的表現，微量元素的波峰(如SrO)雖然只有0.023%，但波峰仍十分清楚。 ►【案例二】少量海藻成份分析         在面對礦物或生物類樣品時，由於基質成分影響較大，通常使用FP法進行基質分析後，在進行定量。         但若樣品量太少時，使用FP做的基質分析差異過大，導致定量十分不準確。 島津專利的Background FP法利用X射線的強度計算理論，可將樣品數量因子進行計算，算出正確的基質進而定量。         下圖可明顯看出當海藻樣品量多或少時，X射線的強度(波峰高低)明顯不同，此時Background FP法就可得到明顯的效果。 ► 【案例三】樹脂成品上異物分析 由於EDX-8000搭載特殊窗口薄膜，檢測下限極低，因此可應用於微量異物分析。 下圖紅點為樹脂成品上之異物，藍點為無異物之樹脂 將兩者結果疊圖，將一樣的地方挑出(綠色虛線)即為異物成份。 光管老化裝置-加強光管穩定性、延長光管壽命: 為激發光管，須將電壓加強至50kV，島津在電壓增強時，採取步進式技術(每次增加1KV)，溫和增加電壓，使得光管在加壓時，較不易受電壓強度衝擊(異常放電)而損壞，進而延長光管壽命。 樣品測試轉台: ►可供連續12個樣品使用(選配) 產品特色基本規格相關知識 問題詢問 :  項目 內容 產地 日本 測定元素範圍 EDX-8000碳(C6)~鈾(U92) 樣品型態 固體、液體、粉末、薄膜 靶材 Rh(銠)靶 管電壓 5-50kV多段式輸出(每步進1KV可進行調整) 管電流 1~1000μA(儀器能自動調整最適合的電流輸出) 檢測器 高性能SDD檢測器(無須液態氮 濾波器 5種模式 + OPEN自動切換 樣品觀察 半導體CMOS照相機 準直器(照射徑) 1、3、5、10mmφ自動切換  樣品室 300(W)*275(D)*100(H)mm 本體尺寸 460(W)*590(D)*360(H)mm 安全鎖 測試時自動上鎖保護